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產(chǎn)品展示/ Product display

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半導(dǎo)體專用冷熱沖擊箱 芯片級溫度循環(huán)試驗

半導(dǎo)體專用冷熱沖擊箱 芯片級溫度循環(huán)試驗是一種高精度環(huán)境測試設(shè)備,專為芯片、半導(dǎo)體元件、集成電路(IC)等電子產(chǎn)品的可靠性測試而設(shè)計。該設(shè)備通過快速溫度變化(通常-65℃至+150℃或更高范圍),模擬溫度環(huán)境,檢測半導(dǎo)體材料在熱應(yīng)力下的性能變化,確保產(chǎn)品在嚴苛條件下的穩(wěn)定性和耐久性。

  • 產(chǎn)品型號:TSD-150F-2P
  • 廠商性質(zhì):生產(chǎn)廠家
  • 更新時間:2025-08-18
  • 訪  問  量:697
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詳細介紹

半導(dǎo)體專用冷熱沖擊箱 芯片級溫度循環(huán)試驗

產(chǎn)品詳情

半導(dǎo)體專用冷熱沖擊箱是一種高精度環(huán)境測試設(shè)備,專為芯片、半導(dǎo)體元件、集成電路(IC)等電子產(chǎn)品的可靠性測試而設(shè)計。該設(shè)備通過快速溫度變化(通常-65℃至+150℃或更高范圍),模擬溫度環(huán)境,檢測半導(dǎo)體材料在熱應(yīng)力下的性能變化,確保產(chǎn)品在嚴苛條件下的穩(wěn)定性和耐久性。

用途

  • 芯片可靠性測試:評估半導(dǎo)體器件在快速溫變條件下的性能穩(wěn)定性。

  • 封裝材料測試:檢測芯片封裝材料的熱膨脹系數(shù)(CTE)及熱疲勞特性。

  • 失效分析:加速老化測試,提前發(fā)現(xiàn)潛在缺陷(如焊點開裂、分層等)。

  • 工藝驗證:用于晶圓制造、封裝工藝的溫變適應(yīng)性測試。

半導(dǎo)體專用冷熱沖擊箱 芯片級溫度循環(huán)試驗

技術(shù)參數(shù)

項目參數(shù)
溫度范圍-70℃ ~ +150℃(可定制更高)
溫變速率15℃/min ~ 25℃/min(液氮冷卻可達30℃/min以上)
溫度恢復(fù)時間≤5min(從高溫到低溫或反之)
溫度波動度±0.5℃
溫度均勻性±2.0℃
內(nèi)部容積50L/100L/200L(可定制)
控制系統(tǒng)7英寸觸摸屏,支持程序設(shè)定、數(shù)據(jù)存儲、遠程監(jiān)控
安全保護超溫保護、短路保護、漏電保護、壓縮機過載保護

箱體結(jié)構(gòu)與材質(zhì)

  • 外殼:304不銹鋼或優(yōu)質(zhì)冷軋鋼板,防腐蝕、耐高溫。

  • 內(nèi)膽:SUS304不銹鋼,耐高低溫沖擊,抗氧化。

  • 保溫層:高強度聚氨酯發(fā)泡材料,確保低能耗和溫度穩(wěn)定性。

  • 觀察窗:雙層鋼化玻璃,帶加熱防霧功能,便于實時觀察測試樣品。

  • 樣品架:可調(diào)節(jié)不銹鋼托盤,適用于不同尺寸的晶圓、芯片載體。

溫度控制系統(tǒng)

  • 制冷系統(tǒng):采用進口壓縮機+液氮輔助制冷,確保超低溫快速降溫。

  • 加熱系統(tǒng):鎳鉻合金電加熱器,PID精準控溫,避免溫度過沖。

  • 氣流循環(huán):強制對流設(shè)計,保證箱內(nèi)溫度均勻性。

  • 控制方式:PLC+觸摸屏控制,支持多段編程、循環(huán)測試、數(shù)據(jù)導(dǎo)出。

應(yīng)用場景

  • 半導(dǎo)體制造:晶圓、封裝測試、IC可靠性驗證。

  • 汽車電子:車規(guī)級芯片(AEC-Q100)溫度循環(huán)測試。

  • 航空航天:高可靠性半導(dǎo)體器件的環(huán)境模擬。

  • 科研機構(gòu):新材料(如第三代半導(dǎo)體GaN/SiC)的熱應(yīng)力研究。

技術(shù)特點

  1. 超快速溫變:采用高效制冷技術(shù),實現(xiàn)芯片級快速溫度沖擊。

  2. 高精度控制:PID算法+高靈敏度傳感器,確保±0.5℃的控溫精度。

  3. 低熱慣性設(shè)計:減少溫度滯后,提高測試效率。

  4. 智能安全防護:多重報警機制,防止樣品損壞和設(shè)備故障。

  5. 模塊化結(jié)構(gòu):便于維護和升級,降低使用成本。

應(yīng)用領(lǐng)域

  • 半導(dǎo)體行業(yè):晶圓廠、封測廠、IC設(shè)計公司。

  • 電子制造業(yè):功率器件、存儲芯片、傳感器測試。

  • 新能源行業(yè):光伏逆變器、電動汽車電控模塊測試。

總結(jié)

半導(dǎo)體專用冷熱沖擊箱是芯片研發(fā)和量產(chǎn)過程中測試設(shè)備,其高精度溫控、快速溫變能力和穩(wěn)定性能,可有效提升半導(dǎo)體產(chǎn)品的可靠性和良率,適用于各類嚴苛環(huán)境下的質(zhì)量驗證。


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