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電子元器件冷熱沖擊試驗箱可靠性測試設備

電子元器件冷熱沖擊試驗箱可靠性測試設備專為電子行業設計，用于模擬電子元器件在溫度環境下的快速冷熱交替工況，精準檢測其可靠性與穩定性。設備采用三廂式結構設計，包含高溫箱、低溫箱和測試箱，通過氣動風門切換，實現樣品在高低溫環境間的快速轉移。外殼選用高強度冷軋鋼板，經表面噴塑處理，具備良好的防銹、防腐蝕性能；內部工作室采用 SUS304 不銹鋼材質，耐高低溫、無污染，確保測試環境純凈。

產品型號：
廠商性質：生產廠家
更新時間：2025-12-30
訪問量：863

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聯系電話：0769-81085056

詳細介紹

電子元器件冷熱沖擊試驗箱可靠性測試設備

一、產品詳情

專為電子行業設計，用于模擬電子元器件在溫度環境下的快速冷熱交替工況，精準檢測其可靠性與穩定性。設備采用三廂式結構設計，包含高溫箱、低溫箱和測試箱，通過氣動風門切換，實現樣品在高低溫環境間的快速轉移。外殼選用高強度冷軋鋼板，經表面噴塑處理，具備良好的防銹、防腐蝕性能；內部工作室采用 SUS304 不銹鋼材質，耐高低溫、無污染，確保測試環境純凈。配備高清觸摸屏控制器，支持圖形化操作界面，用戶可直觀設置測試程序、監控實時數據，且具備 USB 數據導出功能，方便試驗數據的記錄與分析。

電子元器件冷熱沖擊試驗箱可靠性測試設備

二、用途

芯片可靠性測試：模擬芯片在 - 70℃至 150℃溫度下的冷熱沖擊，檢測芯片的封裝完整性、焊點可靠性以及電路性能穩定性，評估其在惡劣環境下能否正常運行，預防因溫度變化導致的功能失效或壽命縮短。

PCB 板測試：測試 PCB 板在快速溫變環境中的抗變形能力，檢查電路板上的焊點、元器件與基板之間的結合強度，避免因熱脹冷縮產生的應力導致焊點開裂、線路斷路等問題，確保 PCB 板在電子產品中的長期可靠性。

傳感器測試：對溫度傳感器、壓力傳感器等電子傳感器進行冷熱沖擊試驗，驗證其在溫度環境下的測量精度、響應速度和穩定性，確保傳感器在不同環境條件下能夠準確輸出信號。

連接器與接插件測試：檢測連接器、接插件在冷熱交替環境中的接觸電阻變化，評估其插拔性能和機械結構的可靠性，防止因溫度變化導致的接觸不良或機械損壞。

新產品研發驗證：在電子元器件新品研發階段，通過冷熱沖擊試驗加速產品老化，暴露潛在設計缺陷和材料問題，幫助研發人員優化產品結構和工藝，縮短研發周期，提升產品質量。

三、技術參數

<ｉｆｒａｍｅ src="https://about:blank/" frameborder="0" class="tb-scrollable-stunt" style="-webkit-font-smoothing: antialiased; box-sizing: border-box; -webkit-tap-highlight-color: rgba(0, 0, 0, 0); height: 737px; left: -400px; position: absolute; top: -737px; user-select: none; visibility: hidden; width: 400px; overflow-anchor: auto;">

項目	參數詳情
高溫范圍	60℃～200℃
低溫范圍	-70℃～-10℃
溫度波動度	≤±1℃
溫度均勻度	≤±2℃
轉換時間	≤10 秒（氣動風門快速切換）
溫度恢復時間	≤5 分鐘（樣品轉移后工作室溫度恢復至設定值）
工作室尺寸	400×350×350mm（寬 × 深 × 高），可定制
外形尺寸	約 1800×1500×1800mm（寬 × 深 × 高）
電源	AC 380V±10%，50Hz，三相五線制
功率	約 15kW
重量	約 800kg
符合標準	GB/T 2423.22、IEC 60068-2-14、JEDEC JESD22-A114 等電子行業測試標準

四、制冷系統

制冷原理：采用二元復疊式制冷技術，由高溫級和低溫級兩個獨立制冷循環組成。高溫級使用中溫制冷劑（如 R404A），低溫級使用低溫制冷劑（如 R23），通過蒸發冷凝器實現熱量傳遞，達到深低溫制冷效果。當需要低溫環境時，兩個制冷循環協同工作，高溫級制冷循環將熱量傳遞給低溫級，低溫級再將熱量散發到外部環境，從而實現 - 70℃的超低溫。

核心部件：

壓縮機：選用國際半封閉螺桿式壓縮機（高溫級）和全封閉活塞式壓縮機（低溫級），具有高效節能、運行穩定、噪音低等特點，保障制冷系統的可靠性和使用壽命。

換熱器：采用高效銅管翅片式冷凝器和蒸發器，結合親水鋁箔技術，增強換熱效率，降低能耗，同時具備良好的抗腐蝕性能。

節流裝置：高溫級和低溫級分別配備電子膨脹閥和毛細管，電子膨脹閥可根據制冷負荷自動調節制冷劑流量，實現精準控溫，提高制冷系統的響應速度和調節精度。

五、加濕系統

本設備主要針對電子元器件的溫度可靠性測試，一般不配備加濕系統。因為在冷熱沖擊試驗中，水分可能會對電子元器件造成額外的影響，干擾測試結果，甚至導致元器件短路損壞。如需進行溫濕度綜合測試，可選擇配備獨立溫濕度控制系統的試驗箱，其加濕原理通常采用蒸汽加濕或超聲波加濕，通過高精度濕度傳感器實時監測并反饋數據，實現濕度的精確控制。

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